月: 2021年7月

本記事をご覧の皆様、ハートランド・データ社長の落合です。DXが叫ばれるこの時代、ITエンジニアリングの現場における喫緊の大きな課題の一つは「製品テストの効率化と品質向上を、いかにリモート環境で実現していくか」であると認識しております。そんななか、テスト効率化と品質向上の両方を強力に支援するDT+シリーズのひとつ、DT+Analogが大幅にパワーアップいたしました。今回はDT+ Analogの機能について、SDカード制御を行うシステムにおける品質テスト事例を交えつつご紹介させていただきます。